A Multitest, um designer e fabricante de gabaritos e soquetes de teste final utilizados por fabricantes de dispositivos integrados (IDMS) e subcontratados de teste final mundiais, anuncia que Valts Treibergs e Chris Cuda apresentarão um estudo intitulado “Spring Probe PCB Pad Wear Analysis” no Burn-in & Test Socket Workshop, programado para acontecer de 7 a 10 de março de 2010, no Hilton Phoenix East/Mesa Hotel em Mesa, Arizona. A apresentação será realizada durante a Sessão 2, que acontecerá segunda-feira, 8 de março 2010 as 15:30 hs.

A Multitest Elektronische Systeme GmbH, Rosenheim é um dos principais fabricantes mundiais de equipamentos de teste de semicondutores. Comercializados sob as marcas Multitest, ECT Interface Products e Harbor Electronics Multitest de gabaritos de testes e contactores e placas de circuitos impressos ATE. Possui escritórios e filiais na América do Norte, Cingapura, Malásia, Filipinas, Taiwan, China e Tailândia. A Multitest tem um volume anual de negócios superior a 100 milhões de euros e emprega atualmente mais de 750 pessoas. www.multitest.com