A Multitest, um designer e fabricante de processadores e soquetes de teste final utilizado por fabricantes de dispositivos integrados (IDMS) e subcontratados de teste final mundiais, anuncia que Tony DeRosa, gerente de produto, apresentará um estudo intitulado “New Probe Architecture Performance in High-Volume Production” no próximo Burn-in & Test Socket Workshop, programado para 7 a 10 de março de 2010, no Hilton Phoenix East/Mesa Hotel em Mesa, Arizona. A apresentação será realizada durante a Sessão 3, que acontecerá terça-feira, 9 de março de 2010, as 8 hs.

Após apresentar alguns dos desafios atuais e futuros associados com as tendências de embalagem, DeRosa apresentará uma tecnologia de sondas não-tradicional que tem como alvo as aplicações de produto de alto volume.

Esta apresentação comparará e contrastará a arquitetura tradicional da sonda (tambor e êmbolo) com sondas de tecnologia plana. www.multitest.com