コンポーネントの小型化が進むにつれ、湿度に敏感な部品（moisture-sensitive devices：MSD）を管理しサプライ・チェーン全体に渡って保護することは、電子メーカーにとって日々重要性を増しています。

Krayden社(製造材料の主要代理店)は、国際規格AS9120*:2002-10 (International Standard AS9120:2002-10)、ISO 9001:2008の認証を取得したことを発表しました。

YXLONのY.Cheetah X線システムが調査会社Frost & Sullivanから「ベストプラクティス賞（Best Practice Award） 2009」を受賞

アジアのサポート・ネットワークを拡張するGOEPEL electronicの技術パートナープログラムにFulitechが参加。

Nordson（ナスダック：NDSN）の子会社でエレクトロニクス産業向けの自動光学およびX線検査システムの大手サプライヤーであるYESTechは、フルサービスの契約エレクトロニクス製造企業Distron社へのF1-Series自動光学検査（AOI）システムの販売契約を勝ち取ったことを発表しました。

高度で効率的、高品質なインサーキット・テスト・ソリューションを提供するDatest社は、提供製品リストにAgilent 5DX検査装置を加えました。

世界中の多段階デバイスメーカー（IDM）および最終試験下請け業者向けの最終試験ハンドラーおよび最終試験ソケットの設計・製造を行うMultitest社は、Multitest事業部門の「ECTインターフェース製品」がCypressから「プラーク・オブ・アプリシエーション賞」の盾を受け取ったことを発表しました。

完全に生産環境を同期させた製造環境にさえ改善の余地は残されていますが、ボトル・ネックがおぼろげにしか見えず、生産設備能力が全開で活用されている時にはあまり取り沙汰されないものです。

自動実装製品とシステムを世界的に供給しているJuki社は、Juki Americasが8月に2つのトレーニングコースを開催することを発表しました。

温度プロセス開発と温度制御機器の大手メーカーで、産業界で数多くの受賞経験を誇るKIC社は、アリゾナ州テンピのフィエスタ・イン・リゾート・アンド・カンファレンス・センターで開催予定のSMTAアリゾナ万博&テック・フォーラムで、来たる2009年8月26日水曜日午前10:45-11:15に米州販売責任者（sales manager）Brian O’Leary氏が「収益性を高める温度プロファイルの7つの方法」と題した講演を行うことを発表しました。