IEEE Std.1149.x準拠のJTAG*/バウンダリスキャン**・ソリューションの大手、GOEPEL electronic社は完全自動のプログラム・ジェネレータを発表しました。このプログラム・ジェネレータはBoundary Scanソフトウェア・プラットフォームSYSTEM CASCONにおける内蔵システム・バス構造の動的な試験用に特化されたものです。

IEEE Std.1149.x準拠のJTAG*/バウンダリスキャン**・ソリューションの大手、GOEPEL electronic社は完全自動のプログラム・ジェネレータを発表しました。このプログラム・ジェネレータはBoundary Scanソフトウェア・プラットフォームSYSTEM CASCONにおける内蔵システム・バス構造の動的な試験用に特化されたものです。

この度開発されたツールは、機能的なエミュレーション実験のための斬新なVarioTAPR技術に基づいており、初のエラー診断機能を持つほか、実験ベクトル生成の完全な自動化を可能にします。

新しいソリューションの核心要素はバス装置用のAutomatic VarioTAPRテストプログラム・ジェネレーター（AVTG）です。 SYSTEM CASCON"!に完全に統合されているため、既存のBoundary Scanモジュールのプロジェクト・データベースを転用することができます。

生成されたテストプログラムは、すべてのGOEPEL electronic製のScanBooster"!、SCANFLEXRR JTAG/Boundary Scanと互換性をもちます。したがって、プロセッサー毎の高価なポッドは必要としません。 http://www.goepel.com

* JTAG（ジェイタグ、 Joint Test Action Group）：ICチップの検査方式の一つであるバウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準IEEE 1149.1の通称および標準を定めた業界団体の名称

**バウンダリスキャン：回路実装基板上の故障を検出するために，集積回路（LSI）にあらかじめ故障を検出するための回路を設け，LSIからLSIに至る境界（バウンダリ）で電気走査（スキャン）信号を使って故障を検出する検査方法
（出所： http://www.cqpub.co.jp/DWM/contents/0008/dwm000801000.pdf ）