JTAG*/バウンダリスキャン**・ソリューションおよびAOIシステムの大手であるGOEPEL ELECTRONICS社は、英国とアイルランドで無料のJTAG/バウンダリスキャン出張トレーニングを提供します。講座はシステム・エンジニア、研究開発エンジニア、試験生産エンジニアなどを対象に、検査、プログラミング、エミュレーションやシステム全体などへのJTAG/バウンダリスキャン技術の適用が多用途に対応し、効果的であることを訴えかける内容となっています。

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電子メール ： このメールアドレスはスパムボットから保護されています。観覧するにはJavaScriptを有効にして下さい '; document.write( '' ); document.write( addy_text68659 ); document.write( '<\/a>' ); //-->\n このメールアドレスはスパムボットから保護されています。観覧するにはJavaScriptを有効にして下さい 　（担当者: Karl Miles）
電話:　01223 858298
ウェブサイト: http://www.goepel.co.uk の「イベント」からどうぞ。

GOEPELエレクトロニクスの無料バウンダリスキャン・トレーニングは、テストコミュニティとの知識の共有に意欲的で経験豊かなアプリケーションエンジニアが進行を行います。当イベントは、新製品を紹介する目的で行われるものではありませんが、GOEPEL ELECTRONICSの革新的あるいは全般的なトレンド情報などへの言及が一部含まれる可能性があります。

* JTAG（ジェイタグ、 Joint Test Action Group）：ICチップの検査方式の一つであるバウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準IEEE 1149.1の通称および標準を定めた業界団体の名称

**バウンダリスキャン：回路実装基板上の故障を検出するために，集積回路（LSI）にあらかじめ故障を検出するための回路を設け，LSIからLSIに至る境界（バウンダリ）で電気走査（スキャン）信号を使って故障を検出する検査方法

（出所： http://www.cqpub.co.jp/DWM/contents/0008/dwm000801000.pdf ） http://www.goepel.com