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"CASCONがTI TAPトランシーバーをサポート" |
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2009/07/10 金曜日 10:57:55 CDT |
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IEEE Std.1149.x準拠のJTAG*/バウンダリスキャン**・ソリューションの大手GOEPEL electronicは、バウンダリスキャン・ソフトウェア・プラットフォームSYSTEM CASCON"!に関連して、Texas Instruments"!製のLinking Addressable Scan Port（LASP）マルチドロップ・テストアクセスポート（TAP）・トランシーバーLVT8986をサポートするScanRouter特定型の機能ライブラリを開発したことを発表しました。
IEEE Std.1149.x準拠のJTAG*/バウンダリスキャン**・ソリューションの大手GOEPEL electronicは、バウンダリスキャン・ソフトウェア・プラットフォームSYSTEM CASCON"!に関連して、Texas Instruments"!製のLinking Addressable Scan Port（LASP）マルチドロップ・テストアクセスポート（TAP）・トランシーバーLVT8986をサポートするScanRouter特定型の機能ライブラリを開発したことを発表しました。
ボードレベルあるいはシステムレベルでの階層的バウンダリスキャン検査、イン-システム・プログラミング（ISP）およびエミュレーション検査にLVT8986を使用する場合、新しい機能によってプロセスは完全に自動化されます。
LVT8986用の新しいソフトウェア機能はSYSTEM CASCON"!バージョン4.5以降、標準搭載され、ライセンス・マネージャーによって使用を開始できます。本製品の出荷は既にスタートしており、有効な保守契約を締結しているユーザーには無償で配布されます。それに加えて、GOEPEL electronicは、3段階実装されたLVT8986を備えた評価基板を開発しました。それは要望があれば利用可能です。
http://www.goepel.com
* JTAG（ジェイタグ、 Joint Test Action Group）：ICチップの検査方式の一つであるバウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準IEEE 1149.1の通称および標準を定めた業界団体の名称
**バウンダリスキャン：回路実装基板上の故障を検出するために，集積回路（LSI）にあらかじめ故障を検出するための回路を設け，LSIからLSIに至る境界（バウンダリ）で電気走査（スキャン）信号を使って故障を検出する検査方法
（出所：
http://www.cqpub.co.jp/DWM/contents/0008/dwm000801000.pdf
http://www.cqpub.co.jp/DWM/contents/0008/dwm000801000.pdf ）
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