GOPEL electronicはコスト効率の良いハイブリッドJTAG*/バウンダリスキャン**と光学テスト・システムを組み合わせた製品を発売しました。

GOPEL electronicはコスト効率の良いハイブリッドJTAG*/バウンダリスキャン**と光学テスト・システムを組み合わせた製品を発売しました。バウンダリスキャンが基板を管理する傍ら、LED、ディスプレイ、OCRなどの単純な光学検査タスクがTOM（Teachable Optical Measurement　学習機能付き光学計測）システムによって実行されます。すなわちユーザーはGOEPEL electronicの開発、生産する、電気・光学検査装置を一か所で手に入れることができます。

広い検査の守備範囲に加え、この組み合わせの利点は、従来目視で行われていた検査、例えばLEDやディスプレイの検査を自動化できることです。オペレーターの介在を必要としないため、検査速度は著しく増加し、人的ミスも防止できます。更に、肉眼で見えない特性（明るさ、差異）を評価することができます。また、電気・光学検査の組み合わせは、隠れたエリア（ショートやオープン・ピン）の重大な欠陥の検知を可能にします。

http://www.goepel.com

*ICチップの検査方式の一つであるバウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準IEEE 1149.1の通称および標準を定めた業界団体の名称
**LSI同士の境界（バウンダリ）で電気走査（スキャン）信号を使って故障を検出する回路実装基板の検査方法