cyberTECHNOLOGIESはサンホセで行われるIMAPS 2009に、高機能、非接触型の光学3D表面計測ソリューションCT SERIESの新製品を出展します。

cyberTECHNOLOGIESはサンホセで行われるIMAPS 2009に、高機能、非接触型の光学3D表面計測ソリューションCT SERIESの新製品を出展します。

cyberTECHNOLOGIESから新しく発売されるサイバースキャンCT SERIESは、他に例を見ない、解像度3ナノメーターまでの光学3D計測性能を提供します。

CTシリーズは、たいていの材料の表面状態のほか、絶縁保護コーティングやその他の材料上の光学フィルムの膜厚（湿乾を問わず）などをより正確により速く測定します。

100、200、300ミリの高速一次元XYスキャンステージと統合レーザー、白色光あるいは干渉計測定センサーが、生産環境、高速3Dサンプル・スキャン、プレ・プログラム・テスト・パターンあるいは迅速な個別研究・開発測定におけるプロセス制御をサポートします。

新しいセンサー技術により、透過性の高い表面や光沢面でも極めて解像度の高い測定を提供する能力が大幅に増強しています。ユーザーは多くのアプリケーションに採用されている従来の低速なスタイラスベースの表面形状測定装置を交換し、非接触で、測定対象やその表面を破損する恐れなしに、これまでの10倍もの速度で測定が行えるようになります。

cyberTECHNOLOGIESのソフトウェア製品によって、多くの表面計測に洗練された表面形状測定と、測定ルーチンの自動化がもたらされます。スキャン画像のスピーディな分析と各ステップの自動スキャンと繰り返し機能が特色となっています。ユーザーはASCANソフトウェア・スイートを用いて、Go/No-Go機能を活用し、SPCとCpK結果をプロセスのために取得することができます。


cyberTECHNOLOGIESについて

cyberTECHNOLOGIESは、研究および産業アプリケーション用の高解像度の光学非接触3D測定システムの先進メーカーです。 グローバルなサプライヤーとして、質の高い代理店および販売員のネットワークを世界中に有しています。

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