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セイカマシナリー社、HIOKI製 X-Y型 インサーキットハイテスタ1240シリーズ |
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2011/02/24 木曜日 22:50:14 CST |
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2010年2月、カリフォルニア州トーランス、高性能機械と精密材料、エンジニアリングサービスのトッププロバイダー、セイカマシナリー社は、HIOKI製 X-Yインサーキットハイテスタ1240シリーズを発表した。このシリーズは、高スピード、高精度、高信頼性を誇る実装基板フライングプローブテスタで、多品種少量生産の基板検査に最適である。
1240シリーズは、4端子測定機能を持ち、従来の装置では難しいとされていたアプリケーション、FET、リレー、3端子レギュレーターなどのアクティブインサーキットテストが可能。
簡易ファンクション測定、バウンダリスキャン(境界走査)、クリスタル発振器の周波数測定もオプション機能として付随。X-Y型 ICT(インサーキットテスタ)プラットフォームは、柔軟性と将来の拡張を視野に入れたデザイン設定となっている。
HIOKIフライングプローブは、従来のテスト機器を上回る長所を兼ね備える。ジグレス検査による迅速なセットアップ、誤実装(mis-mounted)部品、不良部品、プアコンタクト(擬似接触)の検出などテスト機能が充実。また、抵抗値測定を通して、基板を傷つけないソフトランディング機能により、敏速なはんだ接触部の接触検査が可能となる。
1240シリーズ、フライングプローブテストは、0.025秒/ステップの高速テストが可能。他のシステムでは実現できないHIOKI製4端子はんだ接触インテグリティテストフライングプローブによって、高精度はんだ付けとはんだ付け不良のわずかな違いを確認することができる。
フライングプローブ機械は、オプション機能として自動テスト生成を提供、故障回路と正確な回路のパフォーマンス差を検出することが可能。さらに、セイカマシナリー社は、コンピュータを使用した返還ソフトウェア(プリント基板CADデータから検査用プログラムを作成)を提供、これによりデータ分析の効率化が実現する。
データ分析と、高品質スピードテストのバラエティに富んだ測定機能を持ったフライングプローブテスタは、回路基板の能率的でスピーディな検査を可能にするコスト効率の良いテスタである。www.seikausa.com
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