カリフォルニア州フリーモント、効率的で高品質な最新型インサーキットテスティングソリューションを提供するDatestは、2011年NPIアワードを受賞したことを発表した。

カリフォルニア州フリーモント、効率的で高品質な最新型インサーキットテスティングソリューションを提供するDatestは、2011年NPIアワードを受賞したことを発表した。テスト＆インスペクション分野での受賞で、インサーキットテスタ、SPEA 4060 フライングプローブテスタ（SPEA 4060 Flying Probe Tester ）が高く評価された。授賞式は、2011年4月12日、IPC APEX2011開催中のMandalay Bay Resort & Convention Center（ラスベガス）にて行われた。

4060フライングプローブテスタの特徴であるトップとボトムのプローブ同時操作によって、基板回転の必要なくPCBアセンブリテストが実現する。PCBアセンブリへの両面プローブにより、より広範囲なテストが可能となった。テストアクセスが制限された今日のデザインに比べ、両面操作が可能な4060テスタは、カスタマの特別な要望を満たすことができるフレキシビリティを提供する。

SPEA 4060新機器の使用により、測定スピードの増加とともに、高精密及び高分解能テストが実現。データキャプチャ電子機器をプローブヘッドへ動かすことにより測定電子機器と被試験体（DUT）間の距離を最小限にする。新デザインはシグナルノイズを低減し、最高安定性を持った測定を実現する。

SPEAの新レオナルドエキスプレス操作システム（Leonardo Express operating system）は、誘導型テストプログラムデベロップメントにより敏速で簡単なテスト生成を提供する。自動テストデバッグ及び安定したテスト結果を得るためのプログラムチューニングにより、処理プロセスの簡略化が実現する。

Datest社プレジデント、Robert Boguski氏は、授賞式にて次のようにコメントした。｢長年のビジネスパートナーSPEAに代わって、2011年NPIアワードを授与され、とても感激しています。NPIアワードの受賞は、SPEA 4060に凝縮された最新型技術を駆使することにより、最先端の基板テスティング機器開発に向けて取り組んできたDatest社の努力が実を結んだ結果です。｣

2008年に初開催されたNPIアワードプログラムは、エレクトロニクス表面実装アセンブリ製品の優秀さをたたえる毎年恒例の祝賀式典である。テクノロジーにおいてクリエイティブな発展を成し遂げた最高の製品として選ばれたプレミア製品は、業界専門家一団により選出される。

SPEA 4060 Flying Probe Systemについてより詳しい情報をお知りになりたい方は、ウェブサイトwww.spea.comへどうぞ。Datestは、SPEAフライングプローブプリントサーキットボードアセンブリテストシステムのUSA西海岸デモストレーションサイトとなります。Datestと同社サービスラインアップについてお知りになりたい方はウェブサイトwww.datest.comへどうぞ。