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작성자 Mathias Keil, CeTaQ, Radeberg
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2009/04/15, 수요일 |
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통계적 방법을 이용한 제조 공정 감시 아이디어는 미국의 물리학자, 엔지니어 겸 통계학자인 월터 A. 슈하트(Walter A. Shewhart )가 시카고 소재 웨스턴 전기 회사에 고용되었던1920년대로 거슬러 올라간다. 그는 일정 품질 수준을 보장하는 제품을 생산하는 방법을 찾는데 전념했다.
그는 최종 제품의 품질은 생산 공정과 관련된 모든 파라미터의 편차에 기반하며, 생산이 진행되는 동안에 중요한 파라미터를 감시하는 것이 필요하다는 사실에 정통했다. 이로써, 어떤 편차가 무작위로 공정 시 정상적인 동작을 수행하고 있는 가를 이해할 수 있으며, 조정 불량의 기계, 소재 및 운영상의 결함 등과 같은 시스템적 영향을 받고 있는 가를 알 수 있게 됐다. 슈하트씨는 “제조품의 경제적인 품질 관리(Economic Control of Quality of Manufactured Product)”라는 그의 책에서 이 의론의 법칙을 밝혔다 (1931, 뉴욕 논스트랜드). 이것은 통계적 품질 관리(SPC)에 의해 다른 종류의 제품 생산시 품질을 성공적으로 향상시킬 수 있는 표준으로 자리 매김했다.
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