Keresés

Bejelentkezés


Új Hírek
Új, nagysebességű kötéstesztelő eszközkészlet a Dage kínálatában a Semicon West rendezvényen
2008. július 11.

A Semicon West kiállításon a kaliforniai San Franciscóban 2008. július 15-17. között bemutatja új 4000HS High-Speed Bondtester típusjelű eszközkészletét a Dage.

 
DEK Horizon 03i
2008. július 11.

DEK Horizon 03iA DEK Horizon 03i rendszert újratervezett sirályszárny-támogatással látták el és továbbfejlesztett operátori hozzáférést kapott.

 
BIG! forraszpaszta az SMTAI-n az Indium Corporation kínálatában
2008. július 11.

Indium8.9 CartridgeAz Indium8.9-et a BGA-s szerelvények first-pass kihozatalának javítására és terepi hibák visszaszorítására tervezték.

 
A Gore online konfigurátort mutatott be ultranagy sűrűségű interconnect megoldásaihoz
2008. július 08.

Gore Launches UHD Connector ToolA GORE™ Ultra High Density (UHD) interconnectek megbízható jelintegritási teljesítményű, integrált fejrészes megoldást nyújtanak.

 
A Juki bemutatja CX-1 beültetőrendszerét a SEMICON West 2008-on
2008. július 08.

Juki CX-1A közelgő SEMICON WEST 2008 kiállításon a Juki standján a CX-1 Advanced Placement System nevű megoldáson lesz a hangsúly.

 
Szakcikk: Nagy kihozatalú PoP eszközök folyamat- és szerelési követelményei
2008. július 03.

A tokozási megoldások fejlesztésének legfőbb mozgatórugói a funkciógazdagítás és a méretcsökkentés.

 
Szabványokat túlteljesítő Micro-USB csatlakozók a JAE Europe kínálatában
2008. június 30.

A Micro-USB szabványban a maximális áramterhelhetőség 1,8 A, támogatja az USB OTG (On-The-Go) szabványt és az ad-hoc kommunikációt hordozható eszközök között.

 
A legrugalmasabb és leggyorsabb mikrohuzalkötő gép huzalos és szalagos alkalmazásokhoz a H&K-tól
2008. június 30.

A Hesse & Knipps demonstrálta a BONDJET BJ820 mikrohuzalkötő berendezés képességeit a Semicon West ’08 alkalmával.

 
Új szemináriumok az ólommentes gyártás témájában
2008. június 30.

Három új szemináriumot jelentettek be az ólommentes gyártás témájában.

 
Szakcikk: Szennyeződések hatásának felbecslése SMT gyártási környezetben
2008. június 26.

By Sheila Hamilton, Technical Director of TeknekA szennyeződésanalízis hatásainak prezentálása egyértelművé teszi, hogy a tisztítási procedúrák és gyártási protokollok mely területeken szorulnak fejlesztésre vagy cserére.

 
<< Első < Előző 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 Következő > Utolsó >>

Eredmények 511 - 520 / 1003