Keresés

Bejelentkezés


Szakcikk: Szeletszintű üreges tokozás átmenő viás kontaktusfelület összekötésekkel Nyomtatás E-mail
Írta: Giles Humpston   
2008. június 26.

Az egyre növekedő pixelszámú szilárdtest képérzékelőknél a csökkenő pixelméret a kihozatalt negatív irányban befolyásolja, amelynek oka legfőképpen a kameramodul összeszerelésénél jelentkező szennyeződések. Az iparban erre azt a megoldást alkalmazzák, hogy preferáltan, annak költséghatékonysága okán szeletszintű technológiával tokozzák a félvezető chipet.

A szeletszintű tokozás egyik nagy kihívása az összeköttetések megvalósítása. A felső, oldalsó és alsó oldali kontaktusok közül az alsó oldali tűnik a legvonzóbbnak, mivel azok lehetővé teszik a képalkotó áramkör felfelé történő beépítését, amely a kamerás alkalmazás feltétele. Bár a TSV (through-silicon via) technológia jónak tűnik és alkalmas a nagyfelbontású képérzékelőkhöz is, költségei és megbízhatósága okán mégsem alkalmazható gondok nélkül.

Cikkünk megoldások ismertet.

A cikk a Global SMT & Packaging magazin 2008 májusi, 8.5-ös kiadásában jelent meg.

A teljes cikk letöltése PDF formátumban (térítésmentesen, angol nyelven).

 

Comments

There are no comments yet - feel free to add one using the form below...


Page 1 of 0 ( 0 comments )
©2005 MosCom

Add your comments to this article: Szakcikk: Szeletszintű üreges tokoz... ...

Name (required)

E-Mail (required)
Your email will not be displayed on the site - only to our administrator
Homepage

Comment