Keresés

Bejelentkezés


Új foglalat test & burn-in alkalmazásra finom raszterosztású QFN tokozású áramkörökhöz Nyomtatás E-mail
Írta: Hungary Administrator   
2007. június 25.

A Yamaichi új, nyitott tetejű QFN foglalatai nagy megbízhatóságú, 0,5 mm-es finom raszterosztású csatlakozórendszerrel és standard foglalattal rendelkeznek. Automatizált adagolásnál különböző tokméreteknél nem szükséges cserélni az adaptert, amellyel idő takarítható meg. A standard foglalatméret egyszerű, de nagy megbízhatóságú megoldásként lett megvalósítva, amely minden test & burn alkalmazásnál követelmény.

A foglalat külső méretei:

  • NP473 sorozat: 25,0 x 25,0 x 20,5 mm: páratlan kivezetőszámhoz minden oldalon (12 ... 44 kivezető),
  • NP404 sorozat: 32,0 x 32,0 x 20,5 mm: páros kivezetőszámhoz minden oldalon (16 ... 88 kivezető),
  • NP474 sorozat: 45,0 x 45,0 x 20,5 mm: páratlan kivezetőszámhoz minden oldalon vagy dupla sorokban (52 ... 124 kivezető).

A nagy megbízhatóságot fokozza a ZIF (Zero Insertion Force - zérus behelyezési erőt igénylő) kialakítás is: a nem megerőltető fedél-lenyomást követően az integrált áramkör biztonságosan rögzül a foglalatban, a fedő felemelését követően a rendszer kiemeli az IC-t.

További információ: www.yamaichi.eu.